平面近场测试系统用一个特性已知的探头在距离待测天线3~10λ的某一个平面上进行扫描，通过高精度扫描架采集近场下的幅度与相位信息，加上近远场变换，可以得到待测天线的远场方向图。

根据待测设备的摆放定位方式，扫描架可以分为立式结构和卧式结构，由于近场极大的缩短了测试距离，尤其适用于K，Ka波段的中高增益相控阵天线的批量制造阶段，可实现阵子校准及方向图抽测，具有体积小、灵活度高、造价适宜等显著特点。