紧缩场测试系统

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▷频段覆盖广,最高可达 110GHz,适配蜂窝与毫米波卫星通信设备测试
▷全空域高精度扫描,360° 角度测量,角度分辨率高,测试结果精准
▷测试效率高,优化采样算法,相比传统方案可成倍缩短测试耗时
▷自动化能力强,多通道多波位一键测试,硬件同步触发保障测量时序

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规       格
  • TCR300
  • TCR500
  • TCR1000
  • TCR-X
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标准产品清单


产品型号TCR300TCR500TCR1000TCR-X
频率范围(GHz)10~403~40(可扩展至110)
静区尺寸(m)φ0.3x0.3φ0.5x0.5φ1x1

Customer

Design
幅度锥削(dB)≤1≤1≤1
幅度波纹(dB)≤±0.5≤±0.5≤±0.5
相位波动(°)≤±5≤±5≤±5
交叉极化(dB)≤-25≤-25≤-25
¹暗室尺寸 L x W x H(m)1.8x2x2.22.5x2.2x3.48x4x4

转台规格

(根据需求可提供U型或立式转台)

方位轴0-360°范围,转动速度 0-10°/s,可重复精度 ±0.05°
横滚轴0-360°范围,转动速度 0-10°/s,可重复精度 ±0.05°
俯仰轴默认无,可按需求定制
平移轴默认无,可按需求定制

¹暗室尺寸:可根据用户实际使用场景进行调整。

紧缩场(Compact Antenna Test Range,简称 CATR)测试系统 采用精密的反射面,将源产生的球面波在近距离内变换为准平面波,从而满足远场测试要求。以满足无源和有源天线、相控阵雷达、目标特性等测试所需要的一个较为理想的测试场,具有测试项全面,测试效率高等显著特点。此外,紧缩场还支持扩展在高低温条件下进行射频指标测试。

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