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紧缩场测试系统

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规格

TCR300

TCR500

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TCR-X

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标准产品清单

产品型号		TCR300	TCR500	TCR1000	TCR-X
频率范围（GHz）		10~40	3~40（可扩展至110）
静区尺寸（m）		φ0.3x0.3	φ0.5x0.5	φ1x1	Customer Design
幅度锥削（dB）		≤1	≤1	≤1
幅度波纹（dB）		≤±0.5	≤±0.5	≤±0.5
相位波动（°）		≤±5	≤±5	≤±5
交叉极化（dB）		≤-25	≤-25	≤-25
¹暗室尺寸 L x W x H（m）		1.8x2x2.2	2.5x2.2x3.4	8x4x4
转台规格（根据需求可提供U型或立式转台）	方位轴	0-360°范围，转动速度 0-10°/s，可重复精度 ±0.05°
	横滚轴	0-360°范围，转动速度 0-10°/s，可重复精度 ±0.05°
	俯仰轴	默认无，可按需求定制
	平移轴	默认无，可按需求定制

¹暗室尺寸：可根据用户实际使用场景进行调整。

紧缩场（Compact Antenna Test Range，简称 CATR）测试系统 采用精密的反射面，将源产生的球面波在近距离内变换为准平面波，从而满足远场测试要求。以满足无源和有源天线、相控阵雷达、目标特性等测试所需要的一个较为理想的测试场，具有测试项全面，测试效率高等显著特点。此外，紧缩场还支持扩展在高低温条件下进行射频指标测试。

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