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▷空间要求低，近场短距离测量，满足实验室、产线批量测试需求▷频段范围广，覆盖 1‑40GHz，可扩展至 110GHz，适配毫米波相控阵天线测试▷近远场数据解算，反演远场方向图，同时实现天线口面场诊断、单元故障定位▷方案灵活扩展，支持阵列探头、多极化同步测量，提升测试吞吐效率
标准产品清单
¹频率范围：可根据用户实际使用场景进行调整。
平面近场测试系统用一个特性已知的探头在距离待测天线3~10λ的某一个平面上进行扫描，通过高精度扫描架采集近场下的幅度与相位信息，加上近远场变换，可以得到待测天线的远场方向图。
根据待测设备的摆放定位方式，扫描架可以分为立式结构和卧式结构，由于近场极大的缩短了测试距离，尤其适用于K，Ka波段的中高增益相控阵天线的批量制造阶段，可实现阵子校准及方向图抽测，具有体积小、灵活度高、造价适宜等显著特点。